Отрывок: Ɉɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ...
Название : | Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем |
Авторы/Редакторы : | Мелешенко Д. Ю. Пиганов М. Н. Министерство образования и науки Российской Федерации Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) Институт информатики математики и электроники |
Дата публикации : | 2018 |
Библиографическое описание : | Мелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304 |
Ключевые слова: | математические методы оценки пленочные пассивные элементы микросхем погрешности дефекты электрические параметры |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf | 5.73 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.