Отрывок: Ɉɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Мелешенко Д. Ю. | ru |
dc.contributor.author | Пиганов М. Н. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки Российской Федерации | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | математические методы оценки | ru |
dc.coverage.spatial | пленочные пассивные элементы микросхем | ru |
dc.coverage.spatial | погрешности | ru |
dc.coverage.spatial | дефекты | ru |
dc.coverage.spatial | электрические параметры | ru |
dc.creator | Мелешенко Д. Ю. | ru |
dc.date.issued | 2018 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180724134304 | ru |
dc.identifier.citation | Мелешенко, Д. Ю. Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем : вып. квалификац. работа по спец. "Конструирование и технология электронных средств" / Д. Ю. Мелешенко ; рук. работы М. Н. Пиганов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники, Фак-т элек. - Самаpа, 2018. - on-line | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 5,6 Мб) | ru |
dc.title | Методика оценки погрешности электрических параметров комплексов пленочных пассивных элементов микросхем | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 47.59.49 | ru |
dc.subject.udc | 621.396 | ru |
dc.textpart | Ɉɫɨɛɟɧɧɨ ɹɜɧɨ ɷɬɨ ɢɦɟɟɬ ɦɟɫɬɨ ɩɪɢ ɨɛɪɚɬɧɨɣ ɡɚɜɢɫɢɦɨɫɬɢ ɗɉ ɨɬ ɏɎ, ɜ ɱɚɫɬɧɨɫɬɢ ɜ ɩɥɟɧɨɱɧɵɯ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚɯ ɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚɯ, ɨɫɧɨɜɧɵɦ ɗɉ ɤɨɬɨɪɵɯ ɹɜɥɹɟɬɫɹ ɨɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ. Ɉɦɢɱɟɫɤɨɟ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɥɟɧɨɱɧɨɝɨ ɩɪɨɜɨɞɧɢɤɚ ɢɥɢ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɨɩɪɟɞɟɥɹɟɬɫɹ ɢɡɜɟɫɬɧɵɦ ɜɵɪɚɠɟɧɢɟɦ. ɜ ɤɨɬɨɪɨɦ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɤɜɚɞɪɚɬɚ ɢ ɞɥɢɧɚ ɪɟɡɢɫɬɨɪɚ ɢɡɦɟɧɹɸɬ ɫɨɩɪɨɬɢɜɥɟɧɢɟ ɩɪɹɦɨ ɩɪɨɩɨɪɰɢɨɧɚɥɶɧɨ ɢɡɦɟɧɟɧɢɸ ɫɜɨɢɯ... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Мелешенко_Дмитрий_Юрьевич_Методика_оценки_погрешности_электрических.pdf | 5.73 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.