Отрывок: Рисунок 5 - Место установки датчиков при испытании прибор Рисунок 6 – Крепление прибора при испытаниях на воздействие пониженного давления Основные требования к испытаниям: предельная пониженная температура среды минус 50+3 оС; предельная повышенная температура среды 50+3 оС; рабочая пониженная температура среды минус 20+3 оС; рабочая повышенная...
Название : | Статистические методы в метрологическом обеспечении производства ракетно-космической техники |
Авторы/Редакторы : | Шарапов И. Р. Плотников А. Н. Министерство образования и науки Российской Федерации Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) Институт авиационной техники |
Дата публикации : | 2017 |
Библиографическое описание : | Шарапов, И. Р. Статистические методы в метрологическом обеспечении производства ракетно-космической техники : вып. квалификац. работа по спец. "Управление качеством" / И. Р. Шарапов ; рук. работы А. Н. Плотников ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т авиац. техники, Каф. пр-ва летат. аппаратов и упр. - Самара, 2017. - on-line |
Аннотация : | Объект исследования – измерительная система электротехнических параметров микропроцессорного контроллера температуры.Цель работы – проведение статистического анализа измерительной системы, введение корректирующих действий для обеспечения пригодности измерительной системы.В ходе работы рассмотрены два вида статистического анализа измерительной системы, как статистические методы метрологического обеспечения. Изучены цель и задачи обеспечения пригодности измерительной системы, два метода анализа, а также определены параметры характеризующие пригодность измерительной системы.Эффективность статистического анализа заключается в возможности рассмотрения и регулирования измерительной системы на основе получаемых в ходе измерительных процессов результатов. |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20180306113919 |
Ключевые слова: | измерительные системы электротехнические параметры случайные погрешности линия регрессии статистический анализ метрологическое обеспечение дисперсионный анализ микропроцессорные контроллеры температуры регрессионный анализ |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Шарапов_Ильяс_Рифкатович_Статистические_методы_метрологическом.pdf | 1.77 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.