Отрывок: Рисунок 5 - Место установки датчиков при испытании прибор Рисунок 6 – Крепление прибора при испытаниях на воздействие пониженного давления Основные требования к испытаниям:  предельная пониженная температура среды минус 50+3 оС;  предельная повышенная температура среды 50+3 оС;  рабочая пониженная температура среды минус 20+3 оС;  рабочая повышенная...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorШарапов И. Р.ru
dc.contributor.authorПлотников А. Н.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorИнститут авиационной техникиru
dc.coverage.spatialизмерительные системыru
dc.coverage.spatialэлектротехнические параметрыru
dc.coverage.spatialслучайные погрешностиru
dc.coverage.spatialлиния регрессииru
dc.coverage.spatialстатистический анализru
dc.coverage.spatialметрологическое обеспечениеru
dc.coverage.spatialдисперсионный анализru
dc.coverage.spatialмикропроцессорные контроллеры температурыru
dc.coverage.spatialрегрессионный анализru
dc.creatorШарапов И. Р.ru
dc.date.issued2017ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20180306113919ru
dc.identifier.citationШарапов, И. Р. Статистические методы в метрологическом обеспечении производства ракетно-космической техники : вып. квалификац. работа по спец. "Управление качеством" / И. Р. Шарапов ; рук. работы А. Н. Плотников ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т авиац. техники, Каф. пр-ва летат. аппаратов и упр. - Самара, 2017. - on-lineru
dc.description.abstractОбъект исследования – измерительная система электротехнических параметров микропроцессорного контроллера температуры.Цель работы – проведение статистического анализа измерительной системы, введение корректирующих действий для обеспечения пригодности измерительной системы.В ходе работы рассмотрены два вида статистического анализа измерительной системы, как статистические методы метрологического обеспечения. Изучены цель и задачи обеспечения пригодности измерительной системы, два метода анализа, а также определены параметры характеризующие пригодность измерительной системы.Эффективность статистического анализа заключается в возможности рассмотрения и регулирования измерительной системы на основе получаемых в ходе измерительных процессов результатов.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,7 Мб)ru
dc.titleСтатистические методы в метрологическом обеспечении производства ракетно-космической техникиru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti55.49ru
dc.subject.udc629.78ru
dc.textpartРисунок 5 - Место установки датчиков при испытании прибор Рисунок 6 – Крепление прибора при испытаниях на воздействие пониженного давления Основные требования к испытаниям:  предельная пониженная температура среды минус 50+3 оС;  предельная повышенная температура среды 50+3 оС;  рабочая пониженная температура среды минус 20+3 оС;  рабочая повышенная...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Шарапов_Ильяс_Рифкатович_Статистические_методы_метрологическом.pdf1.77 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.