Отрывок: Две другие функции, необходимые для использования BIST на системном уровне, включают контроллер тестирования (или контроллер BIST) и схему изоляции входа. Помимо обычных системных контактов ввода/вывода, для включения BIST могут потребоваться дополнительные контакты ввода/вывода для активации последовательности BIST (управляющий сигнал BIST...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Банталов А. А. | ru |
dc.contributor.author | Козлова И. Н. | ru |
dc.contributor.author | Лизункова Д. А. | ru |
dc.contributor.author | Министерство образования и науки России | ru |
dc.contributor.author | Самарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет) | ru |
dc.contributor.author | Институт информатики | ru |
dc.contributor.author | математики и электроники | ru |
dc.coverage.spatial | проектирование BIST | ru |
dc.coverage.spatial | электроника | ru |
dc.coverage.spatial | цифровые ячейки блочной памяти | ru |
dc.coverage.spatial | блоки тестирования | ru |
dc.coverage.spatial | моделирование ошибок | ru |
dc.creator | Банталов А. А. | ru |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\ВКР20200914150546 | ru |
dc.identifier.citation | Банталов, А. А. Оптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памяти : вып. квалификац. работа по направлению подгот. 11.03.04 "Электроника и наноэлектроника" (уровень бакалавриата) / А. А. Банталов ; рук. работы И. Н. Козлова ; нормоконтролер Д. А. Лизункова ; Минобрнауки России, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т информатики, математики и электроники,. - Самара, 2020. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Целью работы является оптимизация и реализация блока тестированияцифровой ячейки блочной памяти на Verilog.Результаты данной дипломной работы могут быть использованы дляразработки блоков самотестирования для цифровых ячеек памяти. | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 1,4 Мб) | ru |
dc.title | Оптимизация блока тестирования цифровых ячеек блочной памяти | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rugasnti | 50.01 | ru |
dc.subject.udc | 004.9 | ru |
dc.textpart | Две другие функции, необходимые для использования BIST на системном уровне, включают контроллер тестирования (или контроллер BIST) и схему изоляции входа. Помимо обычных системных контактов ввода/вывода, для включения BIST могут потребоваться дополнительные контакты ввода/вывода для активации последовательности BIST (управляющий сигнал BIST... | - |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Банталов_Артём_Алексеевич_Оптимизация_блока_тестирования_цифровых.pdf | 1.47 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.