Отрывок: Следует отметить, что высоты барьеров, обсуждаемые в этой работе, являются эффективными значениями, что означает, что влияние промежуточного слоя (IL) и заряд, захваченный в диэлектрике, включены. 1.2 Влияние режимов работы на величину затворного тока утечки и деградацию параметров МДП – структур и устройств на их основе В работе [9] изучались структуры TiN/Er2O3/Si, полученные при различных условиях отжига. На рис. 13 показаны характеристики плотность тока утечки...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorВладимиров Д. А.ru
dc.contributor.authorШалимова М. Б.ru
dc.contributor.authorМинистерство образования и науки Российской Федерацииru
dc.contributor.authorСамарский национальный исследовательский университет им. С. П. Королева (Самарский университет)ru
dc.contributor.authorЕстественнонаучный институтru
dc.coverage.spatialзатворыru
dc.coverage.spatialобработка поверхностиru
dc.coverage.spatialМДП-структурыru
dc.coverage.spatialэлектрическая перегрузкаru
dc.coverage.spatialтоки утечкиru
dc.creatorВладимиров Д. А.ru
dc.date.issued2018ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\ВКР20190423110409ru
dc.identifier.citationВладимиров, Д. А. Изменение токов утечки МДП-структур при электрической перегрузке : вып. квалификац. работа по направлению "Физика" (уровень бакалавриата) / Д. А. Владимиров ; рук. работы М. Б. Шалимова ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т естественнонауч., Фак-т физ., Каф. радиофизики,. - Самара, 2018. - on-lineru
dc.description.abstractОбъектом исследования являются устройства на основе МДП структурЦелью работы является классификация основных механизмов прохождения тока через затворный диэлектрик, выявление зависимости тока утечки от технологии изготовления МДП-структур.Проведен анализ влияния электрической перегрузки на деградацию МДП – структур, изменение механизма электропроводности через диэлектрик.ru
dc.format.extentЭлектрон. дан. (1 файл : 1,1 Мб)ru
dc.titleИзменение токов утечки МДП-структур при электрической перегрузкеru
dc.typeTextru
dc.subject.rugasnti47.33.29ru
dc.subject.udc621.382ru
dc.textpartСледует отметить, что высоты барьеров, обсуждаемые в этой работе, являются эффективными значениями, что означает, что влияние промежуточного слоя (IL) и заряд, захваченный в диэлектрике, включены. 1.2 Влияние режимов работы на величину затворного тока утечки и деградацию параметров МДП – структур и устройств на их основе В работе [9] изучались структуры TiN/Er2O3/Si, полученные при различных условиях отжига. На рис. 13 показаны характеристики плотность тока утечки...-
Располагается в коллекциях: Выпускные квалификационные работы

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
Владимиров_Данил_Андреевич_ИЗМЕНЕНИЕ_ТОКОВ_УТЕЧКИ.pdf1.12 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть  
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.