Отрывок: При подаче на ПДС смещающего напряжения колебательный контур ИП, исследуемая структура и устройство коммутации оказываются под разными потенциалами. Поскольку добротность колебательного контура мала, в нем возникают собственные колебания, которые не позволяют наблюдать релаксацию емкости ПДС в течение всего переходного процесса. Кроме того, переходные процессы в колебательном контуре могут влиять на работу...
Название : | Устройство контроля качества полупроводниковых структур |
Авторы/Редакторы : | Холод Н. В. Иванов В. В. Глазунов В. А. Министерство образования и науки Российской Федерации Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева (национальный исследовательский университет) (СГАУ) Институт электроники и приборостроения Кафедра конструирования и технологии электронных систем и устройств |
Дата публикации : | 2016 |
Библиографическое описание : | Холод, Н. В. Устройство контроля качества полупроводниковых структур : вып. квалификац. работа по специальности "Проектирование и технология радиоэлектрон. средств" / Н. В. Холод ; рук. работы В. В. Иванов ; рец. В. А. Глазунов ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) (СГАУ), Ин-т электроники и при. - Самара, 2016. - on-line |
Аннотация : | В данном дипломном проекте, на основе теоретических расчетов, предложена методика определения энергии ионизации глубоких уровней (ГУ) захвата в полупроводниковых структурах. Создана структурная схема установки, позволяющая автоматизировать процесс измерен |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\ВКР20160419121411 |
Ключевые слова: | полупроводниковая диодная структура устройство коммутации измерительные преобразователи дефекты в полупроводниках надежность |
Располагается в коллекциях: | Выпускные квалификационные работы |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Холод_Устройство_контроля_качества_полупроводниковых.pdf | 1.59 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.