Отрывок: Рисунок 3. Зависимость F-меры Ван Ризбергена и достоверности от изменения параметров размера входного изображения для сверточной нейронной сети. На рисунке 3 представлен график зависимости F-меры Ван Ризбергена и достоверности от размера входного изображения. Как видно на графике, принимает наибольшее значение при размерах входного изображения в 84 × 84 и 92 × 92 отчетов. Размер 92 × 92 отчетов был принят ка...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Агафонова Ю. Д. | ru |
dc.contributor.author | Гайдель А. В. | ru |
dc.contributor.author | Зельтер П. М. | ru |
dc.contributor.author | Капишников А. В. | ru |
dc.coverage.spatial | МРТ головного мозга | ru |
dc.coverage.spatial | магнитно-резонансная томография | ru |
dc.coverage.spatial | качество изображений | ru |
dc.coverage.spatial | изображения МРТ | ru |
dc.coverage.spatial | сверточная нейронная сеть | ru |
dc.creator | Агафонова Ю. Д., Гайдель А. В., Зельтер П. М., Капишников А. В. | ru |
dc.date.accessioned | 2020-08-12 13:05:35 | - |
dc.date.available | 2020-08-12 13:05:35 | - |
dc.date.issued | 2020 | ru |
dc.identifier | RU\НТБ СГАУ\441474 | ru |
dc.identifier.citation | Сверточная нейронная сеть для обнаружения патологий на изображениях МРТ головного мозга / Ю. Д. Агафонова, А. В. Гайдель, П. М. Зельтер, А. В. Капишников // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 2. - С. 181-188 | ru |
dc.identifier.uri | http://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Svertochnaya-neironnaya-set-dlya-obnaruzheniya-patologii-na-izobrazheniyah-MRT-golovnogo-mozga-85260 | - |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.ispartof | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек | ru |
dc.source | Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 2 : Обработка изображений и дистанционное зондирование Земли | ru |
dc.title | Сверточная нейронная сеть для обнаружения патологий на изображениях МРТ головного мозга | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.citation.epage | 188 | ru |
dc.citation.spage | 181 | ru |
dc.citation.volume | 2 | ru |
dc.textpart | Рисунок 3. Зависимость F-меры Ван Ризбергена и достоверности от изменения параметров размера входного изображения для сверточной нейронной сети. На рисунке 3 представлен график зависимости F-меры Ван Ризбергена и достоверности от размера входного изображения. Как видно на графике, принимает наибольшее значение при размерах входного изображения в 84 × 84 и 92 × 92 отчетов. Размер 92 × 92 отчетов был принят ка... | - |
Располагается в коллекциях: | Информационные технологии и нанотехнологии |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
ИТНТ-2020_том 2-181-188.pdf | 793.09 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.