Отрывок: ОБЛ. на рисунке 4б). Увеличение параметров DLOAЭФФ.ОБЛ. и НПУРЭФФ.ОБЛ свидетельствует об ухудшении упорядоченности ТЛИППС. а) б) Рисунок 4. Определение упорядоченности ТЛИППС, без учёта дефектных областей: DLOAЭФФ.ОБЛ. (а) и НПУРЭФФ.ОБЛ. (б)....
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБелоусов Д. А.ru
dc.contributor.authorДостовалов А. В.ru
dc.contributor.authorКорольков В. П.ru
dc.contributor.authorБронников К. А.ru
dc.contributor.authorМикерин С. Л.ru
dc.contributor.authorБабин С. А.ru
dc.coverage.spatialанализ дефектностиru
dc.coverage.spatialлазерно-индуцированные поверхностиru
dc.coverage.spatialпленки гафнияru
dc.coverage.spatialсфокусированные гауссовы пучкиru
dc.creatorБелоусов Д. А., Достовалов А. В., Корольков В. П., Бронников К. А., Микерин С. Л., Бабин С. А.ru
dc.date.accessioned2020-08-10 15:27:42-
dc.date.available2020-08-10 15:27:42-
dc.date.issued2020ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\441559ru
dc.identifier.citationАнализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучком / Д. А. Белоусов, А. В. Достовалов, В. П. Корольков, К. А. Бронников, С. Л. Микерин, С. А. Бабин // Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Тек / М-во науки и образования Рос. Федерации, Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т), Ин-т систем обраб. изобр. РАН - фил. ФНИЦ "Кристаллография и фотоника" РАН. - 2020. - Т. 1. - С. 372-377ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Informacionnye-tehnologii-i-nanotehnologii/Analiz-uporyadochennosti-i-defektnosti-struktur-TLIPPS-sformirovannyh-na-tonkih-plenkah-Hf-astigmaticheskim-gaussovym-puchkom-85172-
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020) : сб. тр. по материалам VI Междунар. конф. и молодеж. шк. (г. Самара, 26-29 мая) : в 4 т. - Текru
dc.sourceИнформационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2020). - Т. 1 : Компьютерная оптика и нанофотоникаru
dc.titleАнализ упорядоченности и дефектности структур ТЛИППС сформированных на тонких пленках Hf астигматическим гауссовым пучкомru
dc.typeTextru
dc.citation.epage377ru
dc.citation.spage372ru
dc.citation.volume1ru
dc.textpartОБЛ. на рисунке 4б). Увеличение параметров DLOAЭФФ.ОБЛ. и НПУРЭФФ.ОБЛ свидетельствует об ухудшении упорядоченности ТЛИППС. а) б) Рисунок 4. Определение упорядоченности ТЛИППС, без учёта дефектных областей: DLOAЭФФ.ОБЛ. (а) и НПУРЭФФ.ОБЛ. (б)....-
Располагается в коллекциях: Информационные технологии и нанотехнологии

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
ИТНТ-2020_том 1-372-377.pdf426.11 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.