Отрывок: б в г д Рисунок 3 - Вид поверхности исследуемых подложек, полученный на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) Solver PRO-M фирмы ”НТ-МДТ” а,б - изображение и профилограмма исходной поверхности, соответственно; в - микрофотография исследуемой поверхности (1 – при нагрузке подложки-зонда на исследуемую поверхность 0,2кг; 2 – 0,3 кг); г- профилограмма в области участка 2; д – АСМ изображение исследуемой...
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Кричевский С. В. | ru |
dc.contributor.author | Самарский государственный аэрокосмический университет им. С. П. Королева | ru |
dc.contributor.author | Российская академия наук | ru |
dc.coverage.spatial | диоксид кремния | ru |
dc.coverage.spatial | экспериментальная физика | ru |
dc.coverage.spatial | приборы анализа и повышения степени чистоты поверхности | ru |
dc.creator | Кричевский С. В. | ru |
dc.date.issued | 2008 | ru |
dc.identifier | RU/НТБ СГАУ/WALL/Автореф/К 828-389305 | ru |
dc.identifier.citation | Кричевский, С. В. Разработка приборов анализа и повышения степени чистоты поверхности диоксида кремния [Электронный ресурс] : автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.01 / С. В. Кричевский ; Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева, Ин-т систем обраб. изображений РАН. - Самара, 2008. - on-line | ru |
dc.description.abstract | Труды сотрудников СГАУ (электрон. версия) | ru |
dc.description.abstract | Используемые программы: Adobe Acrobat | ru |
dc.format.extent | Электрон. дан. (1 файл : 4,54 Мбайт) | ru |
dc.language.iso | rus | ru |
dc.relation.isformatof | Разработка приборов анализа и повышения степени чистоты поверхности диоксида кремния [Текст] : автореферат дис. ... канд. техн. наук : 01.04.01 | ru |
dc.title | Разработка приборов анализа и повышения степени чистоты поверхности диоксида кремния | ru |
dc.type | Text | ru |
dc.subject.rubbk | 01.04.01 | ru |
dc.subject.rugasnti | 29.01 | ru |
dc.subject.udc | 53(043.3) | ru |
dc.textpart | б в г д Рисунок 3 - Вид поверхности исследуемых подложек, полученный на сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) Solver PRO-M фирмы ”НТ-МДТ” а,б - изображение и профилограмма исходной поверхности, соответственно; в - микрофотография исследуемой поверхности (1 – при нагрузке подложки-зонда на исследуемую поверхность 0,2кг; 2 – 0,3 кг); г- профилограмма в области участка 2; д – АСМ изображение исследуемой... | - |
Располагается в коллекциях: | Авторефераты |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Кричевский С.В.pdf | 4.65 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать базовое описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.