Отрывок:
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorБозриков В. С.ru
dc.coverage.spatialчисло ошибочных решенийru
dc.coverage.spatialполупроводниковые микросхемыru
dc.coverage.spatialтеории распознавания образовru
dc.coverage.spatialметод потенциальных функцийru
dc.coverage.spatialиндивидуальное прогнозированиеru
dc.creatorБозриков В. С.ru
dc.date.issued2013ru
dc.identifierDspace\SGAU\20170323\63133ru
dc.identifier.citationБозриков, В. С. Прогнозирование надежности полупроводниковых микросхем / В. С. Бозриков // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара, 2013. - С. 53-54.ru
dc.identifier.isbn978-5-7883-0980-4ru
dc.language.isorusru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г. Самара, 21-23 мая 2013 г.)ru
dc.titleПрогнозирование надежности полупроводниковых микросхемru
dc.typeTextru
dc.citation.epage54ru
dc.citation.spage53ru
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Описание Размер Формат  
53-54.pdfОсновная статья856.02 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.