Отрывок:
Название : | Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов |
Авторы/Редакторы : | Курылева П. А. Боранбаев М. С. |
Дата публикации : | 2015 |
Библиографическое описание : | Курылева, П. А. Обзор методов и устройств контроля электромагнитных параметров тонких пленок и наноматериалов / П. А. Курылева, М. С. Боранбаев // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. научн.-техн. конф. (г. Самара, 13-15 мая 2015 г.) / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. А. И. Данилина. - Самара : СНЦ РАН, 2015. - С. 100-102. |
ISBN : | 978-5-906605-57-3 |
Другие идентификаторы : | Dspace\SGAU\20161223\60980 |
Ключевые слова: | контроль электромагнитных параметров библиографические исследования тонкие пленки патентные исследования наноматериалы прибор диагностики материалов |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
100-102.pdf | Основная статья | 127.7 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.