Отрывок: Д ля исследования П С ЭРИ в DIP-корпусах необходимо проводить дополнительны е испы тания, так как вероятностная характеристика их отказов ш ире, чем у Э РИ ПМ. Сбор, учет, накопление, обработка и анализ отказов образцов тестовых модулей в процессе испы таний должен производиться на основе заполнения карточек учет...
Название : | Методика испытания паяных соединений |
Авторы/Редакторы : | Наседкин А. В. |
Дата публикации : | 2011 |
Библиографическое описание : | Наседкин, А. В. Методика испытания паяных соединений / А. В. Наседкин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций [Электронный ресурс] : материалы Всерос. науч.-техн. конф., 10-12 мая 2011 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева (нац. исслед. ун-т) ; [под ред. М. Н. Пиганова]. - 2011. - С. 211-213 |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса) : | http://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Metodika-ispytaniya-payanyh-soedinenii-80946 |
Другие идентификаторы : | RU\НТБ СГАУ\431664 |
Ключевые слова: | радиоэлектронные изделия паяные соединения смешанные паяные соединения изделия космической промышленности надежность паяных соединений |
Располагается в коллекциях: | Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций |
Файлы этого ресурса:
Файл | Размер | Формат | |
---|---|---|---|
Актуальные проблемы 2011-211-213.pdf | 83.49 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Показать полное описание ресурса
Просмотр статистики
Поделиться:
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.