Отрывок: Список использованных источников 1. Максимов, А. К. Разработка систем тестирования и отладки программируемых логических интегральных схем / А. К. Максимов, А. В. Попов, С. Ф. Семенов // Электронная техника. Серия 3: Микроэлектроника. – 2023. – № 1(189). – С. 5-8. – DOI 10.7868/S2410993223010013. – EDN PAUGXC. 256 Филатов Сергей Алексеевич, начальник лаборатории, sfilatov@niime.ru. Семенов Святослав Федорович, ведущий инженер-конструктор, svsemenov@niime.ru. Максим...
Название : Исследование высоковольтных генераторов EEPROM на устойчивость к воздействию радиации
Авторы/Редакторы : Филатов С. А.
Семенов С. Ф.
Максимов А. К.
Попов А. В.
Дата публикации : 2024
Библиографическое описание : Исследование высоковольтных генераторов EEPROM на устойчивость к воздействию радиации / С. А. Филатов, С. Ф. Семенов, А. К. Максимов, А. В. Попов // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. (г.Самара, 23-26 апр. 2024 г.) / Самар. нац. исслед. ун-т им. С. П. Королева (Самар. ун-т) ; под ред. В. А. Зеленского. - Самара : [Артель], 2024. - С. 254-256.
Другие идентификаторы : RU\НТБ СГАУ\554738
Ключевые слова: схемотехнические решения
управляемый пробой
структурная схема
предельная накопленная доза
ПЛИС
микросхемы энергонезависимой памяти
исследование устойчивости
EEPROM
выходное напряжение
высоковольтные генераторы
воздействие радиации
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
978-5-903943-20-3_2024-254-256.pdf250.61 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.