Отрывок: Решением этих задач является изучение используемых электрофизических эффектов на микроскопическом уровне, определяющем всё многообразие форм существования этого эффекта, одну из разновидностей которого предлагается использовать для электрофизического диагностирования приборов. Обнаружена корреляция параметров динамической электромагнитной неустойчивости в биполярном транзист...
Полная запись метаданных
Поле DC Значение Язык
dc.contributor.authorЧернобровин Н. Г.ru
dc.coverage.spatialбиполярные структурыru
dc.coverage.spatialдинамическая электромагнитная неустойчивостьru
dc.coverage.spatialкритерии оценки качестваru
dc.coverage.spatialполупроводниковые приборыru
dc.coverage.spatialтранзисторыru
dc.coverage.spatialфизико-математические моделиru
dc.creatorЧернобровин Н. Г.ru
dc.date.accessioned2024-09-03 11:19:43-
dc.date.available2024-09-03 11:19:43-
dc.date.issued2009ru
dc.identifierRU\НТБ СГАУ\559377ru
dc.identifier.citationЧернобровин, Н. Г. Исследование механизма неустойчивости в биполярных структурах / Н. Г. Чернобровин // Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. / М-во образования и науки Рос. Федерации, Федер. агентство по образованию, Самар. гос. аэрокосм. ун-т им. С. П. Королева ; под ред. М. Н. Пиганова. - Самара : Изд-во СГАУ, 2009. - [Ч. 1]. - С. 164-165.ru
dc.identifier.urihttp://repo.ssau.ru/handle/Aktualnye-problemy-radioelektroniki-i-telekommunikacii/Issledovanie-mehanizma-neustoichivosti-v-bipolyarnyh-strukturah-110724-
dc.language.isorusru
dc.relation.ispartofАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций : материалы Всерос. науч.-техн. конф. 12-14 мая 2009 г. - Текст : электронныйru
dc.sourceАктуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций. - [Ч. 1]ru
dc.titleИсследование механизма неустойчивости в биполярных структурахru
dc.typeTextru
dc.citation.epage165ru
dc.citation.spage164ru
dc.textpartРешением этих задач является изучение используемых электрофизических эффектов на микроскопическом уровне, определяющем всё многообразие форм существования этого эффекта, одну из разновидностей которого предлагается использовать для электрофизического диагностирования приборов. Обнаружена корреляция параметров динамической электромагнитной неустойчивости в биполярном транзист...-
Располагается в коллекциях: Актуальные проблемы радиоэлектроники и телекоммуникаций

Файлы этого ресурса:
Файл Размер Формат  
978-5-7883-0672-8_2009-164-165.pdf95.06 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть
Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики
Поделиться:



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.